物(wù)位測量技術發(fa)展
物位測量技(jì)術經曆了結構(gou)上從機械式儀(yi)表向電子式儀(yi)表發展,以及工(gōng)作方式上由接(jie)觸式向非接觸(chu)式發展🏃🏻♂️的過程(cheng)。
上圖中,前4種測(cè)量技術都屬于(yú)接觸式測量方(fāng)法,第5種輻射法(fa)爲非接觸測量(liàng)方法。其中,直視(shi)法是指眼睛可(ke)✉️以直接觀👣測到(dao)介質♋容量變化(huà)的一種方法;測(cè)力法是指通過(guò)❓被測介質對指(zhǐ)示器或傳感器(qì)等目标施加外(wai)力來測量的方(fāng)法;壓力法是由(yóu)被測介質施加(jia)在測量探頭而(er)産生壓力進行(hang)測量的方法;電(diàn)♈特性法是利用(yong)被測介質的電(diàn)特性進行測量(liàng)的方法;輻射法(fǎ)采用電磁頻譜(pǔ)🧑🏽🤝🧑🏻原理技術。
前4種(zhǒng)方法需要測量(liang)儀器的全部或(huò)一部分部件與(yǔ)被測介質😍(固體(ti)或液體物料)相(xiang)接觸才能達到(dao)測量的目的。從(cóng)長期來看,物料(liào)粘附物及沉積(jī)物會對這些機(ji)械部件産生附(fù)着,當物料爲腐(fǔ)蝕性或易産生(shēng)水鏽的介質時(shi),對儀器精度的(de)影響将更加嚴(yan)重。在工業生産(chan)中,對物位儀表(biǎo)zui基本的要求是(shi)高精度和高可(ke)靠性,這就🤟需要(yào)有應用範圍更(geng)大、精度更高的(de)技術出現。
TOF測量(liàng)原理
近幾年來(lai),發展較快的是(shì)行程時間或傳(chuan)播時間ToF ( time of flight )測量原(yuán)理🐉,又稱回波測(cè)距原理。它是利(li)用能量波在空(kōng)💯間中的傳播時(shi)🙇🏻間來進行度量(liang)的一種方法。能(néng)量波在信号源(yuán)與被測對象💋之(zhi)間傳遞,能量🚶♀️波(bō)到達被測對象(xiang)後被反射并返(fǎn)回到探頭上被(bèi)接收🛀🏻,屬于非接(jiē)💋觸測距。
ToF 測量技(ji)術可以利用的(de)能量波有機械(xie)波(聲或超聲波(bō))、電✉️磁波(通常爲(wèi)K波段或C波段的(de)微波)和激光(通(tong)常爲紅外波段(duan)的激光),相應的(de)物位計稱爲超(chāo)聲波物位計、微(wēi)波物位計和激(ji)光物位計。
盡(jìn)管輻射法物位(wei)計都是采用ToF測(cè)量原理,但所采(cǎi)用的能量波不(bú)同時,信号的反(fan)射機理及在信(xin)号處理等方面(mian)都有很大的不(bú)同。以現在常用(yòng)的超聲波和微(wei)波物位計爲例(lì),它們都采用ToF測(cè)量原💯理,都需要(yào)一個信号發生(sheng)器和一個回波(bō)信号接收器,但(dan)兩種能量波在(zài)性質、頻率範圍(wei)、反射方法以及(ji)對于包含距📱離(li)信号的反✨射波(bō)的處理上都有(yǒu)比較大的差别(bie)。
電磁波(bo)的波段從3kHz~3000GHz ,微波(bō)是指頻率爲300MHz~300GHz的(de)電磁波。在物⭐位(wei)檢🐪測🚩中,微波使(shǐ)用的頻段規定(ding)在4~30GHz之間,典型波(bō)段爲6.3GHz、10GHz 、26GHz。6.3 GHz 的頻率屬(shu)于C波段微波;10GHz的(de)頻率屬于X波段(duàn)微波;26GHz的頻率屬(shu)于K波段微波。
電磁波與聲波(bō)産生的原理是(shi)不同的,聲波是(shì)靠物質的振動(dòng)🌈産生的,在真空(kong)中不能傳播;而(er)電磁波是靠電(dian)子的振蕩産生(shēng)的,其本身就是(shi)一種物質,傳播(bo)不需要介質,能(néng)在真空中傳播(bō)。這兩種⛹🏻♀️波在通(tōng)過不同的介質(zhi)時都會發💋生折(shé)射、反射、繞射和(hé)散射及吸收等(děng)現象,物位計正(zheng)是應用這種特(tè)性來測量距離(li)的。
與(yu)超聲波物位計(ji)相比,雷達物位(wèi)計的微波信号(hao)是在不同介電(diàn)常數的分界面(miàn)上反射的。微波(bo)以光速傳播,速(su)度幾乎不受介(jie)質特性的影響(xiang),傳播衰減也很(hěn)小,約0.2dB/km 。回波信💯号(hao)強弱很大程度(du)上取決于被測(cè)液✍️面上的反射(she)情況。在被測液(ye)面上的反射🧑🏾🤝🧑🏼率(lǜ)除了取決于被(bei)測物料的面積(jī)和形狀外,主要(yào)💛取決于物料的(de)相對介電👨❤️👨常數(shù)εr。相對介電常數(shù)高,反射率也✏️高(gao),得👌到的回波強(qiang)度高;相對介電(diàn)常數低,物料會(huì)吸收部👅分👣微波(bō)能量,回波強度(dù)較低。
近年來,微(wei)電子技術的滲(shèn)入大大促進了(le)新型物位測量(liang)技術的📐發展,新(xīn)的測量技術促(cu)使物位測量儀(yi)表産品結構産(chan)生了很大變化(huà)。電池供電及無(wu)線雷🌈達式物位(wei)儀表也開始在(zài)市場上出現。所(suo)有這些技術上(shàng)取得的進步以(yǐ)及不斷下降的(de)價格🧑🏾🤝🧑🏼正推動着(zhe)雷達式物位🌐儀(yi)表的不斷增長(zhang)。
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